1 適用範囲
2 用語の意味
測定器に共通の用語
ディジタルレコーダ
アナログオシロスコープ
波高電圧計
予熱時間
使用範囲
ディジタルレコーダの出力
アナログオシロスコープの出力
波高電圧計の出力
オフセット
フルスケールの振れ
振幅の非直線性
スケールファクタ
静的スケールファクタ
インパルススケールファクタ
ディジタルレコーダとアナログオシロスコープ
時間スケールファクタ
タイムベースの非直線性
多チア柄時間Tr
内部雑音
ディジタルレコーダに特有の用語
定格分解能r
サンプリングレート
記録長
基準線
量子化特性
量子化誤差
コードk
コード区間幅w(k)
平均コード区間幅w0
コード遷移しきい値c(k)
積分非直線性s(k)
微分非直線性d(k)
生データ
処理データ
試験の種類に関する用語
形式試験
受入試験
性能試験
性能点検
3 使用条件
4 測定器に要求される試験
形式試験
受入試験
性能試験
性能点検
試験および点検に用いる校正装置
要求される試験項目
5 性能試験
インパルス校正
ステップ校正
インパルススケールファクタの決定
インパルススケールファクタの一定性
時間軸の校正
アナログオシロスコープの電圧偏向特性
干涉妨害試験
測定器の入力インピーダンス
6 性能点検
7 ディジタルレコーダ
認可測定システムに用いるディジタルレコーダの総合不確かさ
総合不確かさ
個別要求事項
基準測定システムに用いるディジタルレコーダの要求事項
総合不確かさ
個別要求事項
8 アナログオシロスコープ
認可測定システムに用いるアナログオシロスコープの要求事項
総合不確かさ
個別要求事項
9 波高電圧計
認可測定システムに用いる波高電圧計の要求事項
総合不確かさ
個別要求事項
10 性能記録
附属書
ディジタルレコーダの形式試験および受入試験
静的積分非直線性および静的微分非直線性試験
動的微分非直線性試験
時間軸の非直線性試験
インパルス校正
ステップ校正
立ち上がり時間試験
内部雑音試験
アナログオシロスコープの形式試験および受入試験
時間軸の非直線性試験
インパルス校正
ステップ校正
立ち上がり時間試験
内部雑音試験
波高電圧計形式試験のおよび受入試験
電圧レンジの非直線性試験
インパルス校正
アナログオシロスコープの校正方法
高電圧試験所の電磁干渉妨害
一般事項
予防策
電磁シールド
電源線からの誘導干渉妨害の減少
信号線の干渉妨害の減少
光学的手段による信号伝送
インパルス電圧・電流波形の解析
インパルス電圧・電流波形の解析
ディジタル記録の平均曲線
アナログ記録の平均曲線
参照文書
参考 測定の不確かさの算出
はじめに
一般論
系統的寄与成分(タイプB)
ランダムな寄与成分(タイプA)
不確かさの寄与成分の間の相関
総合不確かさ
不確かさの寄与成分の合成
系統的不確かさの推定
ランダムな不確かさの推定
総合不確かさ評価の手順
測定値および推定された不確かさの表示法
測定器の総合不確かさの評価例
一般事項
波高値測定の不確かさ算出
波頭長測定の不確かさ算出
波尾長測定の不確かさ算出
タイプA・タイプB二つの不確かさと総合不確かさの評価
参照文書
解説
ディジタルレコーダの概要
ディジタルレコーダの構成
A/D変換
ディジタルレコーダの出力
スケールファクタ
微分非直線性
試験の名称
最高周波数
