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理工学書/専門書
一般書
月刊 電気計算 2025年8月号
[特集]AI検査技術の動向
AI検査とは、画像やセンサのデータをAIで分析し、製品や設備の異常を自動で検出する技術である。
近年はハードウエア性能の向上や開発ツールの充実もあり、ディープラーニングの進化とともに精度が大きく向上し、さまざまな分野での活用が進んでいる。品質管理の効率化や人手不足の解消にも寄与することから、その重要性は今後さらに高まると考えられる。
今号では、ディープラーニングを用いた外観検査システム、鉄道設備の保守に活用されるAI、超音波を用いた非破壊検査のAI 技術について紹介する。
1,760円(税込)
資格書
2012年制定
JECは、電気学会の電気規格調査会によって制定される団体規格です。
ここの規格には一連の番号が付けられ、必要に応じて改訂が行われ技術進歩に合わせた内容になっています。
適用範囲
用語の意味
能動連系[機能]、アクティブインフィード
能動連系変換装置
附属機器、附属装置
制御方式
一般事項
定格条項
電源系統
電磁両立性
能動連系変換装置の基本特性
基本変換接続および動作原理
AICの定格
EMC
能動連系変換装置の構成
電圧形2レベルPWM AIC
電圧形3レベルPWM AIC
多重接続
各種能動連系変換装置
自励無効電力補償装置
自励フリッカ抑制装置
アクティブフィルタ
使用状態
使用環境
電磁環境
系統連系
高調波
高周波電磁両立性
安全
試験
能動連系に関する試験
表示
仕様事項
必要によって記載する事項
附属書
照会または注文の際に指定することが望ましい事
解説
電圧形F3E変換装置
パルスチョッパ形PWM変換装置
電流形PWM自励変換装置
マトリクスコンバータ
その他のマルチレベル変換装置
空間ベクトルおよび空間ベクトル変調制御
磁束ガイダンス制御
スライディングモード制御
変換器が発生する高調波電圧
AICが発生する高調波およびその対策
AICによる高調波の制御
デッドタイムの影響および補償
各種補償装置と空間ベクトル
この規格とIEC/TS 62578との違い