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理工学書/専門書
一般書
月刊 電気計算 2025年8月号
[特集]AI検査技術の動向
AI検査とは、画像やセンサのデータをAIで分析し、製品や設備の異常を自動で検出する技術である。
近年はハードウエア性能の向上や開発ツールの充実もあり、ディープラーニングの進化とともに精度が大きく向上し、さまざまな分野での活用が進んでいる。品質管理の効率化や人手不足の解消にも寄与することから、その重要性は今後さらに高まると考えられる。
今号では、ディープラーニングを用いた外観検査システム、鉄道設備の保守に活用されるAI、超音波を用いた非破壊検査のAI 技術について紹介する。
1,760円(税込)
資格書
2017年制定
JECは、電気学会の電気規格調査会によって制定される団体規格です。
ここの規格には一連の番号が付けられ、必要に応じて改訂が行われ技術進歩に合わせた内容になっています。
2007年制定の改訂
序文
1 適用範囲
2 引用規格
3 用語及び定義
4 使用状態
4.1 常規使用状態
4.2 特殊使用状態
5 定格・特性
5.1 一般
5.2 定格・特性及び規定項目
5.3 温度定格
5.4 特性
5.5 機械的定格
6 試験
6.1 一般
6.2 試験項目
6.3 電気的定格試験
6.4 電気的特性試験
6.5 熱的特性試験
附属書A(参考) 絶縁形パワー半導体モジュールの定義補足
附属書B(参考) ケース非破壊ピーク電流
附属書C(規定) 電気用図記号及び文字記号
附属書D(規定) パワーモジュール文字記号
附属書E(参考) パワーモジュールの回路例
附属書F(参考) JEC-2407-2007とJEC-2407:2017との対応表
解説
参考文献